CMI900 膜厚测试仪，镀层测厚仪，Xray金属镀层测厚仪，CMI测厚仪，牛津测厚仪，膜厚测试仪。
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牛津无损电镀膜厚测试仪CMI900膜厚测试仪 ，专业测量金、银 钯 ? 镍 铜 锡 等贵金属多镀层膜厚测量，** 精准 无损，业内广受好评，客户应用广泛在 五金 连接器 PCB  LED支架等行业以形成行业测量的标准。欢迎广大五金连接器客户联系 测量量样品 洽谈往来 本公司经营多年工程师经验丰富，商业合作个方式灵活。同时经营原装OXFORD X光射线管 ETP SRP-4探头等配件，以及ROHS检测设备国产**ROHS分析检测仪，台式元素分析仪。
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     在现在这个飞速发展的时代品质决定的一个企业生存的方向，如何把握品质关口。选一台好的管控设备是必要的。仪器介绍
客户名录
CMI 900  系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层  厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、**的分析.基于WindowsXP
中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了对CMI900主机的全面自动化控制，
 PCB 五金 LED 连接器 表面处理等行业
技术参数：
CMI 900 X-射线荧光测厚仪,在技术上一直以来都**于全**的测厚行业
A  CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层
（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定**多5层、15 种元素。
B ：**度**于**，**到0。025um  (相对与标准片)
C ：统计功能提供数据平均值、误差分析、**值、**小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；

D数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求 ；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
E ：可测量任一测量点