UV-313紫外辐照计    

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    UV-313/340型紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

产品特点:

探头（二选其一）：	UV-313nm 探头	UV-340nm 探头
波长范围及峰值波长:	λ：(290～340)nm；λP＝313nm	λ：(315～370)nm；λP＝340nm
紫外带外区杂光：	UV313：小于0.05%	UV340：小于0.05%
辐照度测量范围：	(0.1～199.9×103) μW/cm2
相对示值误差：	±10%（相对与NIM标准）
角度响应特性：	±5%(α ≤10°)
线性误差：	±1%
短期不稳定性：	±1%（开机30min后）
响应时间：	1秒
使用环境：	温度(0～40)℃，湿度＜85%RH
尺寸和重量：	160mm×78mm×43mm；0.2kg
电源：	常规使用6F22型9V积层电池一只 亦可使用数据线连接USB接口、5V电源适配器供电 整机功耗   ＜0.1VA