HP4263B出售

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HP4263B特性与技术指标
基本精度
?0.1%基本精度
AC测试信号电平
?20 mV至1 Vrms，以5m Vrms步进
更多特性
?100 Hz、120 Hz、1 kHz、10 kHz、100 kHz测试频率
?测试信号电平监测功能
?高速测量：25 ms
?高速接触检查
?宽电容测试范围
?变压器参数测量（选件001）HP4263B
HP4263B描述
4263B LCR表是安捷伦科技公司物超所值的低端LCR表，专门用于对生产线元
件进行评估，以及对台式应用进行基本阻抗测试。除了在测试频率为100 Hz、
120 Hz、1 kHz、10 kHz和100 kHz (20 kHz，使用选件002)时可进行基本的阻
抗测量外，4263B还可以利用选件001方便地进行变压器测量。HP4263B
4263B 产品主要特性
· 测量参数：Z，Y，U，R，X，G，B，L，C，D，Q，ESR-4263B-001选件：
增加DCR（直流电阻），匝数比（N），互感（M）。
· 基本测量精度：0.1%。
· 5种测试频率：100 Hz、120 Hz、1 kHz、10 kHz、100 kHz。
· 交流测试信号电平：20 mV至1 Vrms，以5mVrms步进，用以评估电压特性。
· 内部直流偏置：电平1.5V和2V，外部直流偏置：0V至2.5V。
· 测试信号电平监测功能：可监测电压和电流，当充电电容器连接到输入端时内部电路起保护作用。
· 测量速度：**25 ms，提高测试效率。
· 接触检查功能：可检测测试夹具与器件之间的接触故障，接触检查的附加时间为5ms。
· 可通过GPIB接口控制仪器。
  ·GPIB接口：所有控制设置，被测值和比较器信息 HP4263B | HP4263B
  ·精度：±(10%+10mV)
  ·电平：1.5和2V；精度：±(5%+2mV)
  ·HP4263B | HP 4263B | Agilent 4263B外部直流偏置：0~+2.5V
  ·量程为20mV-1Vrms，以5mVrms分档
  ·测试频率：100Hz，120Hz，1kHz，10kHz和100kHz HP4263B | HP4263B
 ·选件002：增加20kHz测试频率
 ·频率精度：±0.01%(频率＝100Hz，1kHz，10kHz，20kHz，100kHz)， ±1%(频率＝120Hz)
 ·输出阻抗：100Ω±10%，25Ω±10%(≤1Ω量程)
 ·交流测试信号电平：20mV~1Vrms，以5mVrms分档
 电源要求：198~264V，47~66Hz，45VAmax HP4263B | HP4263B
 工作温度：0~45℃
 尺寸：320mm(宽)×100mm(高)×300mm(长)HP4263B
  重量：4.5kg
Alilent 4263B LCR测试仪是Agilent公司生产的**价廉物**低档LCR测试仪，供生产线上的
元件评估和实验室中的基本阻抗测试使用。4263B具有能在正确状态下对测试进行模拟的5个
测试频率，即100Hz，120Hz，1kHz和100kHz。在这5个频率之外还可增添供选用的20kHz测试
频率（选件002）。HP4263B
高速测量
4263B依靠在任何测试频率上都有25ms的测量速度来提高一产率，这种能力提高了电
解电容顺和变压器测试的效率，4263B能检查测试端子与被测件（DUT）之间的接触状况，这
种功能保证在生产中用自动处理器进行合格。不合格的测试的可靠性，有故障的被测件一旦
从处理器中取去该仪器便能立即恢复正常工作，因此处理器始终能以**高速度工作。
电解电容器测量
Ailent 4263B的精度和宽的测量范围是对电解电容器进行精密测量的很好保证。充电后的电
容器可能经常端放电，从而使仪器损坏。4263B的前端设计考虑了保护作用，能保持测试正常
进行。 HP4263B
变压器参数测量
HP4263B测量功能
测量参数 |Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR
选件001 增加DCR（直流电阻），N（匝数比）和M（互感）测量
    测量电路形式 串联和并联
    数学功能 偏差和百分偏差
    测试电缆长度 0m,1m,2m,4m,(频率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(频率
=10kHz/20kHz);0m,1m(频率=100kHz)
    测试信号数据
    测试频率 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz
    选件002 增加20kHz测试频率
    频率精度 ±0.01%（频率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV)
    输出阻抗 100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程）
4263B LCR数字电桥变压器参数测量
由于Ailent 4263B LCR数字电桥能进行匝数比（N），互感（M）和直流电阻（DCR）测量，
故数据计算和改变测试装置不再是费时的工作（选件001）灵活的信号电平高速和电压、电
流监视功能使4263B特别适用于测量与电平有关的被测件，始磁芯电感器。HP4263B

你必须先卸载以前的版本scopedata Pro安装新软件之前。如果不这样做
可能会导致不可预知的行为。此版本包括：- scopedata Pro PC- framesc
ope 350的framescope 350 /双遥控350350 - WireScope WireScope /双
遥控350- WireScope 155 V 5.21 WireScope /双遥控155（英语版）增加
新的功能网络测试1。丢包率测试和背靠背试验已经被添加到RFC 2544
测试。RFC 2544测试framescopetm 350和framescopetm Pro之间2.inter-
operability。3.rfc 2544 Web报告增强。电缆测试1。**更新的电缆和
连接器的数据库。注意：安装软件版本3.2.8后，主电缆屏幕上framesco
pe WireScope 350或350显示一个新的简化的用户界面与D类和E类按钮。
如果你想回到原来的“**”模式屏幕，请看下面的说明。HP4263B
Agilent Research Fellow Dr. David E. Root is widely recognized across industry
and academia as a leading expert in modeling and measurement science, known
for his innovative interdisciplinary contributions that have changed the field. He
holds a Ph.D. in physics from MIT and has published over 100 technical articles.
His current responsibilities include nonlinear behavioral and device modeling, lar
ge-signal simulation, and nonlinear measurements for new technical capabilities
and business opportunities for Agilent. He is a fellow of the IEEE.Here are several
papers that Dr. Root has written and/or collaborated on related to the subject of
Device Modeling:?D. E. Root, “Future Device Modeling Trends,” IEEE Microwave
Magazine, Nov./Dec. 2012, pp 45-59An extend survey of modern measurement-
based nonlinear transistor modeling methods. Three very different flows are based
on large-signal data from recent nonlinear vector network analyzer (NVNA) instru
ments. Artificial neural network (ANN) techniques are key elements in two of the
flows. X-parameters applied to the transistor are highlighted in one approach.HP4263B

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