加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了**的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT(HAST) 现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。 注意事项：USPCT现在称为HAST(高度加速应力试验)。

　　HAST高压加速老化试验箱产品特色：

　　a. 试验过程自动运转至完成结束,使用简便。

　　b.三重压力安全保护装置，控制器内部两段式超温保护+机械式压力安全保护装置。

　　c.手动安全保护排压伐，警急安全装置两段式自动排压伐。

　　d.双重过热保护装置：当锅内温度过高时，机器鸣叫警报并自动切断加热电源。

　　e.触控液晶显示屏控制器为**试验温度，湿度，压力之设定、控制及显示,PID控制, 误差±0.1℃

　　f.内部定时器，当锅内温度到达后才开始计时以确保试验完全。

　　g.开始运转时真空泵浦抽出非饱和蒸气以达到**蒸气质量。

　　h.精准的压力指示，误差±0.1。

　　HAST高压加速老化试验箱产品来源：

　　http://www.htityi.com/prolist_t112.html

　　http://www.htityi.com/productshow_117.html