光连接解决方案（光连接器、结构化布线、分路器及其机壳）对于连接密集型中心局、数据中心和光分配网络至关重要。在远程通信、数据通信、无线回传和 FTTx 之外，在海洋、航空电子和军事应用继续大幅增加的同时，新式超级计算应用也在不断涌现。所有这些市场都是由更高的带宽要求推动的。出于必要，市场上不断推出新的连接器规格，这是由降低安装成本、加快部署的需求推动的。

      但这些连接点的质量和光性能往往被忽视。插损和和回损（ IL 和 RL ）不佳可能会对网络性能造成深远影响。性能不佳会直接影响接入和可靠性，甚至会阻碍技术升级之路。同时，经济因素也要求制造商继续降低成本、加快生产并缩短上市时间。

      JDSU 无源器件 / 连接器测试平台（ PCT ）由一系列功能强大的模块，软件和外设组成，用于对光连接器产品的插损、回损、物理长度及双向性能指标进行测试。凭借 JDSU MAP-200 平台的模块性和连通性，可针对研发、生产或质检测试环境对 PCT 进行配置，从而应对从单模及多模 OM1 到 OM4 的所有主要光纤类型。

主要特点

       • 使生产效率增加 4 倍

       • 所需空间为其他测试平台的 25%

       • 可扩展至高成长性、高性能新应用，例如 40/100G 数据中心市场

       • 模块化平台可根据需要在预算允许范围内扩展

       • 通过端口映射在 15 秒以内验证多光纤 MPO 组件的连通性及双向性能

       • 完全支持**增长的 MPO 和 MTP 多光纤连接器的测试

应用

       • 对光连接器和光缆组件、结构化布线解决方案和光分路器的插损 / 回损 / 长度进行测试

       • 对多光纤组件（例如 MPO ）进行自动测试

       • 单模和多模光纤设备解决方案

       • 对大型多光纤组件的连通及双向性能指标进行验证

       • 测量线卡和插口式收发器的 RL

安全特征

       • MAP-200 机框中安装的 mORL-A1 和 mIL-A2 模块符合 CE 、 CSA/UL/IEC61010-1 和 LXI C 级要求

以下各节将论述：

       • 核心测量模块（同时适用于单模和多模）

       • 软件和应用框架

       • MPO 和多光纤测试配置

       • 关键外设和配件

核心测量模块
mORL - A1 单模插损和回损

      一个单插槽模块**多包含 4 个光源（ 1310 、 1490 、 1550 、 1625nm ）、一台集成功率计和选配的 2 × 2 光开关，可用于自动双向测试。

      回损测量采用时域方法，也被称为“无缠绕测量”。无缠绕技术显著的降低了测量时间，避免了缓慢、困难，且需要人工操作这一复杂过程。它还能测量长度，从而进一步消除了质量验证的额外步骤。凭借数十年来积累的OTDR技术，JDSU mORL-A1 提供了80dB的RL动态范围，可以按每两个波长6秒的速度测量**短70厘米的跳线。

      插损测量采用功率计方法。**的输入功率监测和去偏振技术达到真正的 0.001dB 分辨率。插损测量采用与回损测量同样的光源并行完成，减少了总的测量时间。

      配有 mBID 双向测试选件的单模光纤 mORL-A1 模块

mORL-A1 多模插损和回损

      多模模块采用与上文所述的单模模块相同的基本技术和架构。一个标准的双波长版本（ 850 、 1300nm ）的多模应用，还带有集成功率计和可选的 2 × 2 光开关，可用于自动双向测试。

      多模模块需要选择光纤规格。经过数年在 50 µ m （ OM2 、 3 、 4 ）与 62.5 µ m （ OM1 ）测试能力投资之间反复权衡后， JDSU 推出了能对两种光纤类型进行测试的首创模块。双光纤选件可采用同一个模块对 50 µ m 和 62.5 µ m 进行测试。与单模型号相似，可以选择双向测试，包括对混合型组件进行测试。

      可以在 15 ～ 60dB 范围内进行 RL 测量，而且能以每个波长不到 2 秒的时间同时进行 IL 测量。

      插损性能测试符合 IEC61280-4-1 中关于模式注入的建议。对于高吞吐量测试， mORL 模块针对 IL 和 RL 采用同样的激光光源。多模模块包含一套可供选择的标准低功率 LED 光源，以实现超高精度。低功率 LED 光源提供了较低的无偏振相干性，从而消除了光斑效应在功率计表面上造成的不稳定性。像单模模块一样，对输入功率进行监测以达到± 0.02dB 的稳定性。

      多模光纤mORL-A2 测试模块，50µm ，带有mBID双向测试选件，以及一个双光纤型模块

mIL-A2 多模插损

      PCT 系列中的**后一个测量模块是多模插损模块（ mIL-A2 ），这是一款功能强、稳定、紧凑的解决方案，**于 I 测量。一个单插槽模块包含两个 LED 光源（ 850nm 和 1300nm ）、一台用于手动或自动测试的集成功率计，非常适合于不需要进行 RL 测量的应用，从而实现低成本方案。

      它出色的光源稳定性和输入监测功能极大地降低了频繁参考测试的要求。 mIL-A2 采用与上文所述的 mORL 相同的低功率、非相干、去偏振的 LED 光源。它还符合**的 IEC 模式注入标准，而且有 OM1 （ 62.5 µ m ） 或 OM3 （ 50 µ m ）型号可供选择。

      与 mORL 模块一样， mIL-A2 模块在基于标准 MAP-200 的 PCT 应用框架内运行，共享相同的图形用户界面（ GUI ）和功能，从而简化了培训并缩短了操作人员的适应时间。

      mIL-A2模块：一个用于50µm（OM3），另一个用于62.5µm（OM1）

设备维护－保证设备可在现场进行维护保养

      在制造业应用中，尽可能缩短设备的维护时间对保证盈利至关重要。在 mORL-A1 、 mIL-A2 模块和 MAP-200 的设计中，考虑了这个关键需求。采用业内独特的设计，可对 mORL/mIL 的光连接器进行维护保养。如下图所示，只需拆下一颗螺钉就可取出光连接器进行保养。

      打开前面板，维护连接器的分步骤示例

通过双向测试简化工作流程

      mBID 代码选件给 mORL 模块增加了一个内部 2 × 2 开关（ mIL 没有）。这个光开关与时域 RL 测量结合时能极大地缩短测试时间，因为它能利用多重可编程窗口功能通过一个连接测量一个跳线上两个连接器的光回损。这样就无需在另一个方向上测量跳线了，从而使测试时间减半。

模块化紧凑式设计节省工作空间

      MAP-200 达到了业内独特的集成水平。小型化的模块尺寸可以让您用一个三插槽机框实现通用型光纤测试平台。通过三种人机工程学方案（前、后、侧面），**限度地增加了对测试光缆进行管理和提供适当测试条件所需的工作空间。

PCT 应用框架

      用于 mORL-A1 和 mIL-A21 模块系列的 PCT 应用环境被视为 MAP-200 超级应用，因为它能驱动核心测量模块以及若干个邻近模块和外设（例如光开关、条码阅读器和 USB 打印机），从而提供一种全面应用解决方案。维护实用程序可为用户提供现场协助，而登录权限保证了只有授权人员能更改关键设置参数。

      PCT 软件有三种主要操作模式：仪表模式、脚本模式和端口映射。还提供了符合 SCPI 的远程命令的全面补充。

仪器模式

      仪表模式可以让用户在简单、易于使用、直观的 GUI 中**而方便地访问所有关键设置参数，因此非常适合研发或鉴定实验室使用。这项功能让用户在迅速变化的环境中获得了**的控制能力。用户能始终访问显示当前连接和测量设置的交互式窗口。**存储功能可以让用户将测试结果保存为文本文件，并能存储窗口设置，从而简化再调用操作。

脚本模式

      脚本模式通过自编程测试序列使测试完全自动化，并提供了 SQL 简化数据库，从而在密码保护环境中存储结果。序列号可本地生成或通过 USB 条码阅读器输入。自定义脚本保证严格遵照生产程序，而完整的 HTML 编辑程序可用于嵌入指令和照片，供操作人员遵照执行。用户可打印报告和标签或从数据库中输出数据以供分析。数据库询问引擎可以让用户按设备类型、连接器类型或客户等标准提取结果。

      数据可以在本地存储于内部闪存硬盘上，然后通过 USB 或网络 FTP 服务器对外输出。用户也可将各测试文件直接存储在映射网络驱动器上。使用远程网络驱动器时，如果与远程驱动器的连接丢失， PCT 应用可以本地缓存文件；一旦连接恢复， PCT 应用可以自动重新同步。

远程命令

      将 PCT 应用与外部自动化环境（例如 LabView 和 Visual Basic ）集成就能利用 MAP-200 平台的全部功能。它基于可编程仪器标准命令（ SCPI ）的全套命令可通过局域网（ LAN ）或已有的通用接口总线（ GPIB ）接口访问。简单而强大的远程接口是应用的核心要求。 MAP-200 基于 Linux 的操作系统免除了基于 Windows 的已有平台的维护要求以及 IT 部门在病毒和网络访问方面的工作。它提供了一个基于 Excel 的简单示例，仅凭这个示例编程人员就能开始工作了。

      为了进行调试，用户可以通过 VNC 远程登录设备，与远程制造场所交互时这个功能非常有用。

MPO 和多光纤测试配件

      多光纤（ MPO ）连接器是连接类市场中增长**的细分市场之一。 MAP-200 PCT 可灵活适应于创造大吞吐量的测试解决方案，以测试光缆、多光纤分支光缆和光模块。随着测试需求不断的变化，用户可以现场改装 MAP-200 ，从而将单光纤测试解决方案转换成多光纤解决方案。制造商无需担心不断变化的未来要求和市场。 PCT MPO 解决方案由三个主要部分组成。

光开关

      将 mORL 或 mIL 与业内**的 MAP 大通道数（ mLCS-A1 ）系列开关结合可以将单个光纤输出扩展为 8 个、 12 个或 24 个输出。光开关用于加快工作流程并将多个主测试跳线（ MTJ ）同时与系统连接。如果 24 个通道不足，可以通过 USB 使用并控制外部 SC 系列光开关，从而以免手工介入的方式依序测试**多 96 条光纤。

      JDSU mLCS-A1 和 SC 系列光开关在损耗和可重复性方面是业内**产品， 可以在不降低规格的情况下使用 1 亿次以上开关循环。开关的可重复性和稳定性直接影响插损测量结果的可重复性。任何时候**多有两台光开关可与应用关联，但在根据所需光纤类型选择光开关时可实施独特架构。

积分球

      可选配积分球附件对带状光缆连接器和裸光纤进行测量。积分球使输入光线散射，实现内表面均匀照射。位于光电二极管处的小开孔实现了积分功率的测量。在 JDSU 的新式设计中，可在不用时拆除积分球进行单光纤连接器测量或设备维护。只要使用正确的功率计适配器，那么输入孔就足以容纳 72 芯光纤 MT 插芯。

      带有 MPO 功率计适配器的 mORL 模块的前面板所附的 AC990

端口映射应用

      端口映射是另一种软件应用（ mSUP-PCTMAPPING ），它充分利用 PCT 框架内两台光开关的功能，让用户对连通性或双向测量模板进行预编程，并在 IL 或 IL/RL 测试运行前**验证被测组件是否适合。凭借 JDSU 光开关的速度和独特功能，只需要对组件进行完全特性分析所需时间的不到四分之一就能完成这项测试。端口映射应用还有一种检测模式，该模式对于分叉光缆组件尤其有效。在检测模式下无须预先选择输出或使被测设备输出与光开关输出匹配。用户只要在测试前尽快将它连接并让应用检测到端口即可。现场试验表明这可以使连接时间减半。一旦建立端口映射，信息就能无缝反馈到仪表和测试脚本模式中。

规格

mORL-A1 单模插入损耗和回波损耗模块

       • 光源

           ■ 2 波长型： 1310 、 1550nm

           ■ 4 波长型： 1310 、 1490 、 1550 、 1625nm

       • 测量时间

           ■ 初始化时间： < 4 秒

           ■ 每波长平均选项： 2 、 5 、 10 秒

       • 插损

           ■ 显示分辨率： 0.001 dB

           ■ IL 总不确定度 ： ± 0.02 dB

           ■ 其他不确定因素， 1xN 光开关引起的新增不确定度（增加 mLCS-A1 时）： ±0.01 dB

           ■ 其他不确定因素，光纤在积分球内的位置引起的新增不确定度 ： ±0.03 dB

       • 回损

            ■ 显示分辨率： 0.01 dB

            ■ DUT 长度

                  ◆ DUT 反射（两端） < 40 dB ： > 170 厘米

                  ◆ DUT 反射（两端） > 40 dB ： > 70 厘米

       • 回损可重复性 

            ■ –30 ～ 65 dB ： ±0.1 dB

            ■ –65 ～ 70 dB ： ±0.2 dB

            ■ –70 ～ 75 dB ： ±0.4 dB

            ■ –75 ～ 80 dB ： ±1.5 dB

       • 回损精度

            ■ –30 ～ 70 dB ： ±1.0 dB

            ■ –70 ～ 75 dB ： ±1.7 dB

            ■ –75 ～ 80 dB ： ±3.0 dB

       • 校准周期： 1 年

mIL-A2 多模插损模块

       • 光源

            ■ 光源类型：双 LED

            ■ 波长： 850nm 、 1300nm 或两波长均选

       • 测量时间

            ■ 单波长： 0.8 秒

            ■ 双波长： 1.3 秒

       • 插损

           ■ 显示分辨率： 0.001 dB

           ■ IL 动态范围： > 25 dB （ 850/1300 nm ）

           ■ IL 线性： ±0.010dB±10pW （ 1300 nm ）

           ■ IL 稳定性－ 15 分钟： < ±0.01 dB

           ■ IL 长期稳定性－典型： < ±0.05 dB

       • 光纤类型： 50 或 62.5µm

       • 校准周期： 1 年

moRL-A1 多模插损和回损模块

       • 光源

           ■ 2 波长型（ LED 或激光模式）： 850 、 1300nm

       • 光纤类型：

           ■ 单光纤： 50µm （ OM3 ）

           ■ 双光纤： 50µm （ OM3 ）和 62.5µm （ OM1 ）（软件可选择）

       • 测量时间

           ■ 初始化时间： <4 秒

           ■ 每波长平均选项： 2 、 5 、 10 秒

       • 插损

           ■ 模式： LED 或激光（软件可选择）

           ■ 显示分辨率： 0.001 dB

           ■ IL 总不确定度： ± 0.05 dB

           ■ 其他不确定因素， 1xN 光开关引起的新增不确定度（增加 mLCS-A1 时）：± 0.01dB

           ■ 其他不确定因素， 光纤在积分球内的位置引起的新增不确定度 ： ± 0.03dB

       • 回损

           ■ 显示分辨率： 0.01 dB

           ■ 被测设备长度

                  ◆ DUT 反射（两端） < 30 dB ： > 170 厘米

                  ◆ DUT 反射（两端） > 30 dB ： > 70 厘米

       • 回损可重复性 

           ■ –15 ～ 60 dB ： ± 0.2 dB

           ■ –60 ～ 70 dB ： ± 0.5 dB

       • 回损精度

           ■ –15 ～ 20 dB ： ± 1.8 dB

           ■ –20 ～ 60 dB ： ± 1.3 dB

       • 校准周期： 1 年

一般环境规格（**于模块，未放入 MAP- 200 机框）

       • 环境

           ■ 预热时间： 20 分钟

           ■ 工作温度、湿度： 25 ± 5 ° C ；无凝结湿度

           ■ 储藏温度： –30 ～ +60 ° C

       • 物理规格

           ■ 尺寸（宽×高×深）： 4.06 × 13.26 × 37.03 厘米

           ■ 重量（大致）： 1.2 千克

其他规格见 MAP-200 数据表。