XRF-2000电镀膜厚测量仪

产品介绍

X射线电镀测厚仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用于材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。  

XRF-2000镀层测厚仪系列三款型号： 

 
分别XRF-2000H镀层测厚仪,XRF-2000L测厚仪,XRF-2000PCB

三款型号镀层测厚仪功能相同,所体现区别是对检测样品高度有以下要求

1. H型:  密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度100mm以下(长宽550mm) 
2. L型:  密闭式样品室，方便测量的样品较小，高度30mm以下(长宽550mm）  
3. PCB型:  开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度30mm以下

应用 : 检测电子电镀,PCB板,五金电镀层厚度，LED支架等

测量镀金、镀银,镀铜,镀镍,镀铬,镀锌,镀锡,镀钯等、薄膜、元素的成分或者是厚度
 
 
韩国XRF2000镀层测厚仪
检测电子电镀,五金镀,LED支架电镀.PCB板电镀,化学镀
如镀金,镀镍,镀锌,镀锡,镀钯,镀铜,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,操作非常方便简单
仪器功能
全自动台面

自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度不超过3cm(有10CM可选)
镀层厚度测试范围：0.03－35um
可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间：10－30秒

韩国Micro Pioneer
XRF-2000电镀测厚仪

检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,自动雷射对焦，操作非常方便简单

可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）  原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
电脑系统：液晶显示器，彩色打印机
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能