品牌:Micro Pioneer
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信息标签:镀银层X射线荧光测厚仪,供应,仪器仪表,分析仪器
韩国先锋XRF2000镀层测厚仪
检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
X射线测厚仪韩国先锋XRF-2020
功能:**准确无损检测电镀层膜厚
检测电子电镀,五金电镀,PCB板,LED支架等电镀层厚度。
测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等
可测单层、双层、多层、合金镀层测量,不限底料
测量范围:
镀金:0.03-6um
镀钯:0.03-6um
镀镍:0.5-30um
镀锡:0.3-50um
镀银:0.1-50um
镀铬:0.5-30um
镀锌:0.5-30um
镀锌镍合金:0.5-30um
XRF-2020H型:测量样品高度不超过12cm
XRF-2020L型:测量样品高度不超过3cm
XRF-2020PCB型:测量样品高度不超3cm
韩国XRF-2020膜厚仪
可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等
不限底材。
如单镀层铜上镀银,铜上镀镍,铜上镀锌,铜上镀锡,铁上镀镍等
双镀层如铜上镀镍镀金,铁上镀铜镀镍,铜上镀镍镀银等,不限底材
多镀层如:ABS上镀铜镀镍镀铬,铁上镀铜镀镍镀金等,不限底材
合金镀层如:铁上镀锌镍等。不限底材
韩国先锋XRF2000镀层测厚仪
检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量
测量样品高度12cm内
镀层厚度测试范围:0.03-35um
可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度
可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U) 原子序 22 – 92
准直器:固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
电脑系统:液晶显示器,彩色打印机
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能